對(duì)于正常的可控硅,G、K之間的正反向電阻相差很大;G、K分別與A之間的正反向電阻相差很小,其阻值都很大。這種測(cè)試結(jié)果是唯一的,根據(jù)這種唯一性就可判定出可控硅的極性。用萬(wàn)用表R×1K檔測(cè)量可控硅極間的正反向電阻,選出正反向電阻相差很大的兩個(gè)極,其中在所測(cè)阻值較小的那次測(cè)量中,黑表筆所接為控制極(G),紅表筆所接的為陰極(K),剩下的一極就為陽(yáng)極(A)。通過(guò)判定可控硅的極性同時(shí)也可定性判定出可控硅的好壞。如果在測(cè)試中任何兩極間的正反向電阻都相差很小,其阻值都很大,說(shuō)明G、K之間存在開路故障;如果有兩極間的正反向電阻都很小,并且趨近于零,則可控硅內(nèi)部存在極間短路故障。